SN74BCT8373ADWE4
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SN74BCT8373ADWE4參數(shù)：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

類別：集成電路 (IC)-邏輯 - 專用邏輯
標準包裝：25
系列：74BCT
包裝：管件
邏輯類型：掃描測試設(shè)備，帶 D 型鎖存器
電源電壓：4.5 V ~ 5.5 V
位數(shù)：8
工作溫度：0°C ~ 70°C
安裝類型：表面貼裝
封裝：24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）
供應商器件封裝：24-SOIC