SN74BCT8374ADWE4參數(shù)：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
類別：集成電路 (IC)-邏輯 - 專用邏輯標(biāo)準(zhǔn)包裝：25系列：74BCT包裝：管件邏輯類型：掃描測試設(shè)備，帶 D 型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器電源電壓：4.5 V ~ 5.5 V位數(shù)：8工作溫度：0°C ~ 70°C安裝類型：表面貼裝封裝：24-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）供應(yīng)商器件封裝：24-SOIC
